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產(chǎn)品規(guī)格

• 能量分辨率0.3eV（Al-L 光譜圖73eV處測試）
• 獲取能量范圍：衍射光柵JS50XL的能區(qū)50-170eV
• 獲取能量范圍：衍射光柵JS50XL的能區(qū)70-210eV
• 分光譜儀艙安裝位置：
• EPMA的WDS接口：NO.2接口（正面右側(cè)）
• FE-SEM的WDS接口（正面左后側(cè)）
• 分光譜儀尺寸　W 168mm×D 348mm ×H 683mm
• * 從接口包括CCD的距離
• 分光譜儀重量　25kg

適用機型

• EPMA ： JXA-8530F, JXA-8230, JXA-8500F, JXA-8200
• SEM ： JSM-7800F, JSM-7800 Prime, JSM-7100F

電子探針可以對試樣中微小區(qū)域（微米級）的化學組成進行定性或定量分析，可以進行點、線掃描（得到層成分分布信息）、面掃描分析（得到成分面分布圖像）。還能全自動進行批量定量分析。由于電子探針技術(shù)具有操作迅速簡便、實驗結(jié)果的解釋直截了當、分析過程不損壞樣品、測量準確度較高等優(yōu)點，在冶金、地質(zhì)、電子材料、生物、醫(yī)學、考古以及其它領(lǐng)域中得到日益廣泛地應用，是礦物測試分析和樣品成分分析的重要工具。

儀器性能和維護對于實驗室的運行來說至關(guān)重要，禹重為您提供培訓、儀器服務(wù)計劃或按需維修服務(wù)，幫助您獲得準確可靠的結(jié)果以及最長的儀器正常運行時間。我們很清楚保持儀器的最優(yōu)性能對提高您的生產(chǎn)力極為重要，因此，我們定能在您需要時為您排憂解難。
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• 軟X射線分析譜儀(SXES）說明