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• 同軸電子槍和分析幾何和高級的俄歇靈敏度：710的場發(fā)射電子源提供了一個(gè)高亮度而直徑小于6 nm的電子束以產(chǎn)生二次電子成像。710的同軸幾何使用了“同軸式分析器（CMA）”，促使高靈敏度俄歇通過廣泛角度收集進(jìn)行分析，即使樣品是表面平滑或復(fù)雜的形狀或高表面粗糙度，都可以確保迅速完成所有分析程序。
• 高穩(wěn)定性成像平臺：隔聲外殼與振動(dòng)隔離器提供更穩(wěn)定的成像和分析。隔聲外殼從真空控制面板降低頻率范圍從30赫茲到5K赫茲左右的20 dB的聲壓等級（SPL），穩(wěn)定的溫度大約降低系統(tǒng)造成SEM圖像漂移。新的振動(dòng)隔離器也減少了地面振動(dòng)對掃描電鏡圖像和小面積分析的影響。
• 增強(qiáng)的SE圖像用戶界面：PHI710增強(qiáng)SE成像性能，閃爍器檢測器（Scintillator）已被添加在儀器上從而提高圖像質(zhì)量，加上數(shù)碼按鈕的用戶界面更再次提高了使用的方便性。
• 新的高分辨率光譜模式：隨著PHI的新技術(shù)，能量分辨率可調(diào)從0.5%到0.05%。多種化學(xué)物質(zhì)的狀態(tài)可以更容易有效的被觀察出來。
• PHI SmartSoft-AES用戶界面：PHI SmartSoft是一個(gè)操作儀器上為用戶的需要而著想的軟件界面。該軟件是任務(wù)導(dǎo)向型和卷標(biāo)在頂部的顯示指引用戶通過引入樣品，分析點(diǎn)的定義，并設(shè)置了分析。多個(gè)位置分析可以定義和最佳范例的定位提供了一個(gè)強(qiáng)大的“自動(dòng)Z軸調(diào)整”的功能。在廣泛使用的軟件設(shè)置，可讓新手能夠快速，方便地設(shè)置了測量，并在未來可以輕易的重復(fù)以往或常用的類似測量。

• 半導(dǎo)體組件 缺陷分析、蝕刻／清潔殘余物分析、短路問題分析、接觸污染物分析、接口擴(kuò)散現(xiàn)象分析、封裝問題分析等、FIB組件分析
• 顯示器組件 缺陷分析、蝕刻／清潔殘余物分析、短路問題分析、接觸污染物分析、接口擴(kuò)散現(xiàn)象分析等
• 磁性儲存組件 定義層、表面元素、接口擴(kuò)散分析、孔洞缺陷分析、表面污染物分析、磁頭缺陷分析、殘余物分析等
• 玻璃及陶瓷材料 表面沉積物分析、清潔污染物分析、晶界分析等

儀器性能和維護(hù)對于實(shí)驗(yàn)室的運(yùn)行來說至關(guān)重要，禹重為您提供培訓(xùn)、儀器服務(wù)計(jì)劃或按需維修服務(wù)，幫助您獲得準(zhǔn)確可靠的結(jié)果以及最長的儀器正常運(yùn)行時(shí)間。我們很清楚保持儀器的最優(yōu)性能對提高您的生產(chǎn)力極為重要，因此，我們定能在您需要時(shí)為您排憂解難。

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• PHI 710掃描俄歇納米探針中文樣本