上海禹重实业有限公司（以下简称禹重科技®）是一家以服务中国市场和“一带一路”沿线国家为主，提供实验仪器装备、实验室集成、实验室运维的综合解决方案服务商。禹重科技®下设三个事业部和一个技术中心，即仪器装备事业部、耗品事业部、项目开发部、以及中禹联重技术中心。目前除上海总部外，我们已建立北京、广州、青岛、太原、石家庄和乌鲁木齐等分支机构。作为国家级科技型中小企业、上海市“专精特新”企业、上海市高新技术企业、美国PRI 认证ISO9001&9120B质量管理体系企业，为客户提供更专业、更安全、更便捷的产品和服务是我们禹重科技®的唯一目标。 禹重科技®将世界级的分析测试前沿技术和产品带给国内客户，为各类企业的研发和质量过程控制，为高校、科研院所、政府机构等实验室提升测试能力，提供专业的实验室综合解决方案，包括智能实验室设计、仪器解决方案定制、样品前处理平台自动化，同时提供标准样品、耗材配件、仪器配套设备、实验室辅助设施的销售，仪器设备运维，测试和计量检定等综合性服务。 从冶金铸造和新功能材料的开发，船舶建造和石化装备升级换代；到汽车零部件和电子电工的可靠性测试；航空航天和生命科学领域的核心突破；以及环境检测和工业品品质的不断提升，禹重科技®为各行各业的客户提供了众多定制化的智能实验室综合解决方案。随着国家“一带一路”建设和科技创新战略规划的实施，我们服务的地域将拓展到更广阔的东南亚、中东欧和非洲等国家。 https://www.uzong.cn/instruments/surface/content/69-tof-sims.feed 2026-07-26T03:47:29+00:00 Joomla! - Open Source Content Management 2015-01-22T07:09:08+00:00 2015-01-22T07:09:08+00:00 https://www.uzong.cn/instruments/surface/135-nanotof.html 禹重科技 shanghai@uzong.cn

<div class="K2FeedImage"><img src="https://www.uzong.cn/media/k2/items/cache/be7685026070406a215779b242f1aa2e_S.jpg" alt="PHI TRIFT V nano SIMS飞行时间二次离子质谱仪" /></div><div class="K2FeedIntroText"><ul> <li>飞行时间二次离子质谱（TOF-SIMS）是一种表面敏感的技术，提供表面分子，元素及其同位素前几个原子层的组成图像。所有元素和同位素，包括氢气都可以用飞行时间二次离子质谱分析。在理论上，该仪器可以在一个无限大的质量范围内提供很高的质量分辨率（在实践中通常是大约10000amu）。</li> <li>PHI nanoTOF II飞行时间质谱仪是一种高传输、并行检测仪器，其目的是由主脉冲离子束轰击样品表面所产生的二次离子可以得到最佳的收集状态，并可同时用于有机和无机表面特征分析。</li> <li>TRIFT分析仪的工作原理会把离子在光谱仪中不断的重新聚焦。使二次离子质谱允许更多重大的实验得以进行。主离子束最先进的设计，允许经由计算机控制去同时达到高横向分辨率的成像和高质量的图谱分辨率。</li> <li>PHI nanoTOF II是第六代SIMS仪器，该仪器具有独特的专利时间飞行（TOF）分析仪，它拥有市场上TOF-SIMS仪器中最大的角度和能量接受标准，实现了高空间分辨率质量分辨率和使用具有优良离子传输能力的三重重点半球形静电分析器。PHI nanoTOF II还具有很高的能力，可以图像具有非常复杂的几何形状的样本而没有阴影。</li> </ul></div>

<div class="K2FeedImage"><img src="https://www.uzong.cn/media/k2/items/cache/be7685026070406a215779b242f1aa2e_S.jpg" alt="PHI TRIFT V nano SIMS飞行时间二次离子质谱仪" /></div><div class="K2FeedIntroText"><ul> <li>飞行时间二次离子质谱（TOF-SIMS）是一种表面敏感的技术，提供表面分子，元素及其同位素前几个原子层的组成图像。所有元素和同位素，包括氢气都可以用飞行时间二次离子质谱分析。在理论上，该仪器可以在一个无限大的质量范围内提供很高的质量分辨率（在实践中通常是大约10000amu）。</li> <li>PHI nanoTOF II飞行时间质谱仪是一种高传输、并行检测仪器，其目的是由主脉冲离子束轰击样品表面所产生的二次离子可以得到最佳的收集状态，并可同时用于有机和无机表面特征分析。</li> <li>TRIFT分析仪的工作原理会把离子在光谱仪中不断的重新聚焦。使二次离子质谱允许更多重大的实验得以进行。主离子束最先进的设计，允许经由计算机控制去同时达到高横向分辨率的成像和高质量的图谱分辨率。</li> <li>PHI nanoTOF II是第六代SIMS仪器，该仪器具有独特的专利时间飞行（TOF）分析仪，它拥有市场上TOF-SIMS仪器中最大的角度和能量接受标准，实现了高空间分辨率质量分辨率和使用具有优良离子传输能力的三重重点半球形静电分析器。PHI nanoTOF II还具有很高的能力，可以图像具有非常复杂的几何形状的样本而没有阴影。</li> </ul></div>